Vim li cas EOS thiab ESD ua rau cov khoom tsis ua haujlwm?
Thaum lub sij hawm sib dhos txheej txheem ntawm cov khoom siv hluav taws xob, kev sib koom ua ke tsis ua hauj lwm los ntawm EOS (Electrical Over Stress) thiab ESD (Electrical Static Discharge) suav txog li 50% ntawm tag nrho cov khoom siv ua tsis tiav ntawm qhov chaw, thiab feem ntau yog nrog cov nqi tsis zoo thiab tej teeb meem kev ntseeg tau.
Puas yog qhov tsis ua haujlwm ntawm cov kab ntau lawm los ntawm EOS lossis ESD?
Kev lees paub qhov tsis ua haujlwm thiab cov hauv paus ntsiab lus yog thawj kauj ruam tseem ceeb hauv kev txhim kho cov txiaj ntsig. Feem ntau, thaum sib txawv ntawm EOS thiab ESD, peb thawj zaug siv cov kev ntsuam xyuas tsis ua haujlwm los tshawb txog lub cev tsis ua haujlwm ntawm ICs, thiab tom qab ntawd sib txawv raws li qhov tshwm sim.
Feem ntau lub cev tsis ua hauj lwm tshwm sim ntawm ESD muaj xws li substrate breakdown, polycrystalline silicon melting, GOX pin qhov, hu rau melted, hlau melted, thiab lwm yam. (saib daim duab 1), thaum lub cev tsis ua hauj lwm tshwm sim ntawm EOS muaj xws li loj-thaj chaw melting ntawm oxide txheej thiab hlau txheej. , thiab carbonization ntawm pob lub cev (saib daim duab 2).
Daim duab 1: Feem ntau ESD lub cev tsis ua hauj lwm tshwm sim
Daim duab 2: Feem ntau EOS Physical Failure Phenomena